@mihau_: Masz jakiś pomysł skąd wynikają te artefakty wyglądające jak prążki interferencyjne wkoło czasteczek CO (zobacz pic)?
PS. W STEM nie zobaczysz topografii, bo z założenia (prawie) cała wiązka przeswietla próbkę na wylot. Tylko kontrast dyfrakcyjny lub dane z innych detektorów (EDX, EELS, HAADF czy co tam jeszcze masz na pokładzie).
W secondary electron (SE) SEM jak najbardziej. SEM to w ogóle jest uber-mikroskop. Może rozdzielczosc nie taka jak w TEM, ale wkladasz kawałek metalu i masz obraz. W TEM pier*olisz sie tygodniami żeby probka miała mniej niz te 100nm (bo inaczej pochłonie całą wiązkę) a ostatecznie i tak dostajesz kleksy ciężkie do zinterpretowania. No, chociaz dyfrakcja wychodzi ładnie…